Marvell 把 3DIC signoff 延伸到 die、封裝與完整堆疊
重點
- Marvell 實體驗證團隊
- Marvell 實體驗證團隊把單顆 die、interposer、substrate 與完整 stack 分成可追溯的檢查層級,再以 3Dblox 和系統 netlist 串接幾何與邏輯關係,使跨 die 的 opens、shorts、對位和 ESD 路徑能在 tapeout 前被定位。
- Chiplet 整合負責人
- Chiplet 整合負責人需維護 die 方向、介面、hybrid bond、TSV、BGA 與 power clamp 的共同描述;這份資料若與各 die 的 P&R 版本分離,完整 stack 即使通過工具,也可能檢查到錯誤組合。
- CAD 平台團隊
- CAD 平台團隊可以把 TOPO、LDL、CD 與 P2P 排成不同頻率,讓早期迭代先處理拓樸與邏輯連接;Marvell 公開數據顯示 P2P 佔 Tier1 KGS 案例約八成 core-hours,因此完整工作仍應保留在重要里程碑。
- EDA 工具供應商
- Siemens 與 Synopsys 的工具需把不同製程、foundry 與封裝格式轉成一致的跨層連接模型;3Dblox 標準化能降低轉譯摩擦,但規則 deck、電阻限制與 ESD 元件辨識仍依賴製程及專案資料。
一顆 3DIC 可以讓每個 die 各自通過 DRC、LVS 與 ESD 檢查,組裝後仍留下錯誤。原因很具體:兩顆 die 的 hybrid bond pads 可能沒有對齊,彼此對應的 net 名稱可能不一致,從 package BGA 經 TSV 到上層 power clamp 的電阻也可能超過規則。單顆 die 的綠燈只覆蓋局部設計,無法描述跨越封裝的完整導電路徑。
Marvell 在 2025 年 WISH 發表的完整論文,提供一個少見的具名公司案例:流程先完成各 die、interposer 與 substrate 的檢查,再組裝 3D layout 與系統 netlist,最後執行跨 die 連接、對位和六類 ESD 路徑檢查。公開簡報另列出工作時間、核心數、超過 24,000 條 die-to-die signal nets,以及 Tier1、Tier2 各九個 power domains,足以把方法轉成可計帳的平台交接。
沿圖往下看,3DIC signoff 多出的工作並非把多份 DRC 報告放在一起。它需要一個系統層描述,把各自正確的 die、封裝連接與保護元件組成同一張可檢查的圖。
三個局部結果要組成同一份系統狀態
Marvell 方法的第一層仍是熟悉的單體流程。SoC chiplets、HBM 和 dummy dies 各自執行 multi-DRC、antenna、LVS 與 ESD;interposer 和 substrate 則檢查其 routing、bump 與封裝規則。這些結果讓各團隊能在自己的設計資料上收斂,也保留不同 node、foundry 與工具所需的規則 deck。
第二層才建立完整 stack。論文寫明,layout assembly 使用 3Dblox 表達 die、interposer 與 substrate 的位置和介面,logical inter-die connectivity 則轉成可供比較的系統 netlist。IEEE P3537 將 3Dblox 定義為描述 chiplets、interposers、substrates 及其 connectivity 的模組化階層語言;標準化的用途,是讓不同工具交換同一份高階組裝意圖。IEEE P3537 scope
這個交接需要同時固定幾何與邏輯。幾何資料回答 die 的尺寸、方向、厚度、介面區域和相對位置;邏輯資料回答每一個 hybrid bond、micro-bump、C4 與 BGA 最終接到哪一條 net。完整 layout 抽出的連接若與 top-level system netlist 不一致,3DSTACK 類工具便可找出 open、short、缺失 label 或錯位的 bump。Siemens Calibre 3DStack
因此 artifact 的責任可以分成四份:
| 交付層級 | 主要輸入 | 可變內容 | 接收端需要的結果 |
|---|---|---|---|
| 單顆 die | layout、netlist、製程 deck、bump 與 clamp 資料 | P&R 幾何、局部 routing、保護元件 | DRC/LVS/antenna/die ESD 結果與版本 |
| Interposer/substrate | package layout、RDL、C4、BGA、封裝規則 | 封裝走線、escape、尺寸與材料堆疊 | interposer 和 substrate 的連接及規則結果 |
| Assembly | 3Dblox、die transforms、介面對應、system netlist | die 放置、方向、連接映射 | 可抽取的完整 3D layout 與跨 die netlist |
| Stack signoff | 組裝 layout、系統 netlist、ESD 規則及各層結果 | waiver、規則設定、修正後的幾何與 routing | alignment、stack LVS、TOPO、P2P、CD 報告 |
版本關係是平台必須補上的部分。只用檔名連接這四層,會允許新 die layout 搭配舊 3Dblox,或讓 clamp library 更新後仍沿用舊 P2P 結果。參考設計可把每次 stack run 綁定 die layout digest、netlist digest、process deck revision、assembly description、tool build 和 waiver set;接收方看到 pass 時,也能知道它屬於哪一組實體輸入。
前一篇 RapidWright 文章保存局部 placed-and-routed module,讓全域整合者重用實體結果。Marvell 案例處理更晚的交接點:每個 die 已有自己的實體結果,平台還要證明完整封裝中的幾何、電氣連接與保護路徑一致。兩者共同之處是局部成功仍要經過系統層重新組合。
Seal ring 進場後,P&R 看不到的幾何也要被檢查
第一個關鍵機制出現在 hybrid bonding 的 seal ring。Marvell 論文說明,seal ring 在 die assembly 之後依晶片尺寸加入,用來提供切割時的機械保護和環境隔離。它位於 P&R 工具之外,原本的 P&R 環境看不到新增區域,因此也無法替 seal ring 周邊安排 dummy hybrid bond pads。
Marvell 的做法是由插入流程自動產生符合 DRC 的 dummy HBPs,再把 Tier1 與 Tier2 的 projected pad locations 放入 floorplanning 對位檢查。這處理的是跨工具可見性:P&R 完成時的合法 layout,在 assembly 階段加入 seal ring 後多了新幾何;若平台沒有把新增物件送回檢查路徑,局部完成狀態便無法直接沿用。
同一份論文把多種 die-level checks 合併成單一 runset,包含 logic、SoIC TSV、backside metal、hybrid bond 與 micro-bump,並提供可在 floorplan 階段開啟的規則模式。早期模式用來發現介面對位、尺寸與重疊問題,最終模式則使用完整資料執行 signoff。兩者共享規則來源時,工程師能在幾何仍容易移動的階段收到回饋。
早期檢查節省的是昂貴重跑之前的修改成本。若錯位要等到完整 stack LVS 才出現,修正會穿過 assembly、layout extraction、netlist comparison 與相關 signoff 工作;在 floorplan 時發現,改動通常仍侷限於 die transform、pad planning 或 interface region。公開資料沒有提供迭代次數下降的量化結果,因此效益應以專案內的「首次發現階段、修正影響檔案數、重跑 core-hours」來量。
這套方法也增加維護面。Foundry rule、seal ring generator、dummy HBP 規則與 3Dblox 介面描述要一起升版。若自動產生器和 signoff deck 對同一個 enclosure 使用不同 revision,早期通過的 geometry 仍可能在最後被拒絕。平台應讓規則 revision 成為 run identity 的一部分,而非只保存工具 command line。
ESD 要沿 BGA、TSV 與 hybrid bond 走完整條路
第二個機制是把 ESD 檢查從單顆 die 擴展成整個導電網路。Marvell 公開案例包含 top die 與 bottom die,兩者可由不同 node 製造,透過 hybrid bond pads 通訊;外部 I/O 從 BGA、substrate、C4 或 micro-bump 進入,再經 bottom die 的 TSV 到達上層 GPIO ESD cell 或 power clamp。
論文列出六種路徑,涵蓋面對面的 hybrid bonds、die-to-die signal pads、直接進入 Tier2 GPIO 的訊號,以及 power/ground 分別連到 Tier1、Tier2 或兩層 clamps 的組合。工具工作再拆成三類:
- TOPO 找出保護元件與合法拓樸,回答每個入口是否有可達的 ESD 元件。
- P2P 沿實際導體量測 BGA 或 bump 到 clamp 的點對點電阻。
- CD 檢查金屬寬度和 current density,確認路徑可承受規則指定的電流。
這三項不能用單一 connectivity pass 取代。Netlist 連得上,只表示存在路徑;路徑若太長、太窄或跨越錯誤 clamp,ESD 電流仍可能造成損壞。Marvell 例子將一條 resistance rule 設為低於 0.1 Ω,工具回報 pad 與 clamp 間的實測電阻,工程師再依違例位置修 routing。這個數值屬於該案例規則,不是所有 3DIC 的通用上限。
完整路徑還揭示不同團隊的相依。Die team 擁有 clamp cell、TSV 與內部 routing,package team 擁有 BGA、C4、interposer 和 substrate,system signoff team 才看得到兩者串起來的電阻及分流。任何一方只交付 pass/fail 摘要,都不足以重建跨層問題;接收端至少需要 pin mapping、保護元件類型、抽取 connectivity、規則值與可定位的 violation path。
Siemens 2026 年的產品說明也把這條資料鏈分成相似的工具責任:Innovator3D IC 準備組裝與 netlists,Calibre 3DStack 建立完整 multi-die connectivity,Calibre 3DPERC 再執行 ESD path、point-to-point resistance 與 current density checks。Calibre 3D IC solution 這能交叉確認機制方向,Marvell 的實際 runset 和內部自動化仍以其論文揭露為準。
P2P 讓 signoff 預算集中在少數工作
Marvell 的公開 runtime 表讓資源安排可以量化。Tier2 top die 案例有九個 power domains、一個 ground 和超過 24,000 條 D2D signal nets;Tier1 bottom die 也有相同的 power-domain 數量與超過 24,000 條 D2D nets,另有超過 100 條 I/O signal nets。簡報列出的 job 時間與 cores 如表:
| 公開工作 | Tier2 runtime/cores | Tier1 KGS runtime/cores |
|---|---|---|
| TOPO | 1.5 h/48 | 2.9 h/48 |
| LDL | 1.6 h/48 | 2.5 h/48 |
| CD | 1.8 h/48 | 6.2 h/16 |
| P2P | 41 h/240 | 6.5 h/240 |
將每項的 wall-clock hours 乘上 cores,可得到工作量近似值。Tier2 四項合計約 10,075.2 core-hours,其中 P2P 為 9,840 core-hours,占 97.7%;Tier1 KGS 合計約 1,918.4 core-hours,P2P 為 1,560 core-hours,占 81.3%。不同 tier 和模式的設計內容不相同,兩欄不適合被當成工具速度比較;它們共同指出 P2P 會支配計算預算。
假設同一個 Tier1 KGS stack 連續整合五次,每次都執行 TOPO、LDL、CD 與 P2P,總量是 5 × 1,918.4 = 9,592 core-hours。若前四次只跑 TOPO 和 LDL,最後一次再執行完整工作,算例變成 4 × 259.2 + 1,918.4 = 2,955.2 core-hours,下降 69.2%。這是排程模型,沒有宣稱輕量工作可以取代 CD 與 P2P。
可借鏡的實驗應把同一批真實 design changes 分成兩組。A 組每次跑完整工作;B 組讓 floorplan 和初期 assembly 只跑 geometry、TOPO 與 LDL,在里程碑補齊 CD、P2P 和完整 stack LVS。兩組都保存首次發現的 violation、重跑次數、core-hours、license-hours、人工除錯時間,以及最終完整工作找到的新增問題。若 B 組延後發現的高嚴重度問題抵銷計算節省,頻率就要提高。
排程還要分開 core-hours 與日曆時間。兩百四十 cores 跑 6.5 小時是 1,560 core-hours;若共享叢集只能短暫提供八十 cores,工具擴展性與排隊時間都可能改變完成時點。公司需要量到自己的 license 限額、記憶體峰值、I/O 和 parallel efficiency,Marvell 表格只能提供量級和工作組成。
三種流程處理不同的變動形狀
Marvell 方法適合 die、封裝和 stack 由不同資料與團隊維護的情境。標準化 assembly description 把跨層連接變成共同輸入,multi-level checks 則讓局部與系統結果有明確接續。它的代價是多一份必須同步的 system description、跨 foundry 規則整合,以及昂貴的 full-stack extraction 和 P2P。
另一條路是讓單一 EDA 平台保有組裝、物理實作與 signoff 的共同資料庫。這可以減少格式轉換及版本對接,工具供應商也能把 in-design checking 接到修正介面;團隊換來較深的產品依賴,既有腳本和不同供應商的 die data 仍要轉入共同模型。Synopsys 的 Multi-Die System屬於這類整合路線的公開產品說明。
第三條路是只在最終階段做 assembly verification。它對變動少、介面成熟的專案維護成本最低,卻把錯位、名稱對接與跨層保護問題留到修改代價較高的階段。若專案只有兩顆高度固定的 die,完整 flow automation 的投入可能難以攤提;若 chiplets、foundries、package variants 與 derivative products 持續增加,共同描述和早期檢查的回收機會會上升。
TSMC 在 2023 年公布 3Dblox 2.0,把 early 3D IC design 和跨生態系工具交換列為重點;Marvell 2025 年案例新增的理解,是將 seal ring 後處理、dummy HBPs、multi-level DRC 和跨 package ESD 電阻放進同一條具名公司流程。方法演進的方向,從「能描述多顆 die」走向「每個新增物件都能回到系統連接與可靠度規則」。
未來六個月,最值得測的是同一份 assembly intent 能否驅動早期分析與 final signoff,且在 die revision、package variant 和 tool version 改變時保持一致。可觀察三個訊號:跨工具轉譯後的 net count 是否穩定、早期 run 找到的違例有多少會在完整工作重現、final P2P 新增問題的比例是否下降。若版本同步成本持續高於省下的重跑,人力和時程改善就不成立。
Marvell 的公開案例補齊了 R2G 後段一個常被省略的交接:GDS、netlist 與單顆 die 報告交出去後,chiplet 系統仍需要自己的 design intent、layout assembly、系統 connectivity 和 ESD path results。流程能改善時程與 tool-hours 的條件,是介面資料可重用、早期檢查能實際攔下後期問題,且高成本 P2P 工作按風險安排頻率;代價落在共同模型、規則 deck、版本治理與 full-stack 計算。
證據範圍
本文主要依據 Marvell 於 WISH 2025 發表的八頁論文與二十頁簡報。論文支持 multi-level DRC、3Dblox assembly、LVS connectivity、六類 ESD 路徑及 0.1 Ω 案例規則;簡報支持公開 runtime、cores、power domains 與 signal-net 規模。資料沒有提供 tapeout 名稱、量產狀態、導入前後迭代數、缺陷逃逸率或人力節省。
2026 DAC 議程另列 Marvell 的 stacked 3D chiplet SIP flow 和 physical signoff 報告,但目前公開頁面多為摘要;本文沒有用摘要補造論文未揭露的內部介面。Marvell 論文提到 Siemens Calibre PERC 與 Synopsys IC Validator,沒有揭露每項工作使用的完整版本、runset 或分配比例。
Core-hour 數字由公開 wall-clock hours 乘 cores,適合比較該表內工作量級,不表示工具的 CPU 使用率、license 費用或叢集效率。五次迭代模型是明示假設,沒有執行 EDA 工具、3D extraction 或實際 layout;0.1 Ω 僅屬論文案例規則。
參考資料
- Qi Wang 等,Marvell,Navigating the Challenges of Physical Verification in 3DICs,WISH 2025,2025-09-05。
- Marvell,WISH 2025 presentation,完整流程、runtime 與資源表。
- IEEE Standards Association,P3537 Draft Standard for 3Dblox,3Dblox language scope。
- Siemens EDA,Calibre 3DStack及Calibre 3D IC solution,assembly connectivity 與 3DPERC 工作。
- Marvell,DAC 2026 presentations,後續 SIP flow、physical signoff 和 3Dblox 議程。
- Synopsys,Multi-Die System,整合式 exploration-to-signoff 替代方案。